Az Atomfizika Tanszék felületfizikai laboratóriumában végzett kutatások tárgya az alkalmazott anyagtudományi vizsgálatok, funkcionális anyagok vizsgálata, speciális méréstechnika módszerek és mérőberendezések kifejlesztése. Főbb kutatási területeink: hibák és felületek tulajdonságainak vizsgálata kvantummechanikai számításokkal, felületi összetevők vizsgálata szekunder-ion tömegspektroszkópiai (SIMS), Auger elektronspektroszkópiai (AES, SAM) és röntgen fotoemissziós spektroszkópiai (XPS) módszerekkel, in situ plazmadiagnosztika és gázanalízis QMS-sel (IBMS), széles tiltottsávú félvezetők alkalmazásorientált vizsgálata, félvezető oxidok gázszenzorként való alkalmazásának vizsgálata, szilárd elektrolit kondenzátoroknak használt új anódanyagok oxidációs tulajdonságainak vizsgálata, korrózió és szennyeződés vizsgálata kisüléses lámpákban. További témáink: hőátadás kísérleti és elméleti vizsgálata plazmákban és szerkezeti anyagokban,  funkcionális üvegbevonatok kísérleti és elméleti vizsgálata, kvadrupól tömegszűrők, SIMS berendezések valamint GC/MS tömegspektroéterek tervezése, ion és elektron optikák tervezése, félvezető méréstechnika.